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[시작][Topography][frt]
	제품명	FRT MicroProf^®
	제품정보	1.측정요소 : 표면조도(Roughness) 표면기복(Waviness) 외형(Contour) 지형(Topography) 표면미세구조 투명막 두께측정 2.광원 :-Optical Sensor(white light) 백색광(일반할로겐램프) -laser 3.최대측정범위(XY축) :100mm x 100mm 200mm x 200mm 300mm x 300mm

	제품명	Micro Glider^®
	제품정보	1.측정요소 : 표면조도(Roughness) 표면기복(Waviness) 외형(Contour) 지형(Topography) 표면미세구조 투명막 두께측정 2.광원 : Optical sensor(white light) Laser등 다양한 센서 적용 3.최대측정범위(XY축): 600mm x600mm Air bearing을 이용하여 측정범위를 최대한 확장가능하며, µm단위의 극미세면적을 AFM센서를 적용 하여 초미세표면측정등 광범위한 용도의 정밀 측정. 4.특성 :옵션에 따라 다양한 센서를 이용하여 안정적으로 기능을 확장하여 AFM,마이크로 /나노하드니스,투명필름두께등의 연구품질 가능

	제품명	FRT MicroSpy^®
	제품정보	1.측정요소 :-조도등급(Classification) -광택표면의 측정 -빛을 발광하는 표면 측정(발광 다이오드, 유리섬유 -마이크로스펙트로메터(옵션)와 색상 측정 2.광원 :Optical Sensor 백색광(일반할로겐램프) 3.측정방식 :표면에서 반사되어 산란이 생긴 빛의 각도를 센서가 인식하여 표면의 조도 및 결점으로부터 특성분포를 보여줌.

	제품명	Process Control System
	제품정보	1.개념 : 최신 Optical Sensor를 이용하여 완전 자동으로 생산품의 품질을 신속히 전수검사 하여 양불량 및 생산라인의 GO/NO GO를 결정 지어줌. 2.제어요소 : 생산품의 표면조도 생산품의 표면두께 생산품의 외형오차

	제품명	FRT Mark III^{®(소프트웨어)}
	제품정보	1.Linear Regression:복록,오목한 표면의 물체나 표면을 좍 펴줘서 표면을 분석하는 기능 2.Image Overlap:다양하게 분석한 2차원 3차원의 이미지를 동시에 화상에 띄워 비교분석. 3.혁신적인 속도향상.