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   한 미 산 업 

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 White Light Interferrometer타입-3차원 비접촉식 표면 형상측정기

                          (백색광 간섭계 원리)

              (Roughness/Waviness/Contour/Topography),

                                  UBM사의 창업자 Dr. Breitmeir의 기술

Technical data 모델

               WLI Measurement head

Standard version comes with an objective 50x:

Light source Halogen lamp
Meas. Range with internal stepping motor 10 mm, 광범위한 측정
Meas. Range with piezo actuator 100/150 µm, 고속 초정밀측정
Resolution vertical >=1 nm
Resolution lateral >=1 µm
Stand off 3,4 mm
Measurement area 250 x 250 µm
Image size 780 x 560 Pixel

Measurement stages

Displacement XY (Z) 50 (...200) mm
Step width, min. 1 µm

          다양한 방식의 3차원 표면형상 측정기

                  WLI센서 대면적 측정용(14x10mm,stitch없이)

    

          Repetability 수직분해능 1Angstrom(=0.1nm)

                           --->대면적 100x100~300x300mm의 SPM급 측정

Options

  • Objectives
    The standard version comes with an objective turret for 3 objective
  • Type/NA Stand off Meas. area Resolution lateral
    10x/0,3 7 mm 1,25 x 1,1 mm 2 µm
    20x/0,4 5 mm 0,64 x 0,55 mm 1 µm
    50x/0,55 3,4 mm 0,25 x 0,25 mm 1 µm
  • B/W Monitor with Microscope System-샘플표면의 측정위치 쉽게 찾음
  • Workstation with damping elements
  • High speed camera / Mega pixel camera
  • Customised fixtures(Tilting and etc)
  • 고객의 사용에 편리한 매우 다양한 치구가 선택사양으로 공급된다.
  • Special Version의 XY축 13x10mm를 소프트웨어상에서 Stitch 가공을 하지 않고 한번에 Area측정가능한 모델도 있습니다. 대면적 고속측정에 뛰어 납니다.

 


Software

  • Windows XP operating system
  • Custom measurement and evaluation software for standard and scientific applications

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