AIST사 홈페이지 : (http://www.aist-nt.com/)--놀라울정도의 빠른측정속도 동영상, 전자동측정 동영상,

                                                                       다양한 샘플의 측정이미지,   기술자료, 카타로그등 검색 가능합니다. 

 

  

1. 모델 SmartSPM : 미국제조영업(R&D센터 모스코바)의 Global 기술협력의 AIST-NT 사의 AFM

    표면 형상 및 표면의 물성 측정, 자기적,전기적,마찰특성등의 분석이 기본적으로 가능한 측정분석기로서

    샘플장치와 측정시작전 모든 작업을  전자동셋업,  고속의 측정속도,   원자범위~광범위한 측정영역이 교체없이

    가능한 혁신적인 스캔너,   탁월한 방진설계로,  해상도와 이미지가 매우 좋습니다.

 

        Repeatability in XY: 0.1 nm(capacitance sensor on), 0.02 nm (capacitance sensor off)

        Repeatability in Z: better than 0.04 nm

        Scan speed: XY 7kHz, Z 15kHz(unloaded)

        Maximum scan range: 100 x 100 x 15 um (+/- 10 %)

        Maximum sample size: 40x 50 x 15mm(thickness)

        Motorized positioning range: 5 x 5 mm

        Positioning resolution: 1 um

 

 

 

    많지 않을 경우, 측정준비에 상당한 시간을 낭비하게 됩니다.

    전자동셋업 기술 AFM HEAD 개념 동영상--->

    전자동 셋업 기술 전반적인 설명에 대한 동영상 보시기 바랍니다.(http://www.aist-nt.com/products/smartspm/automation/)

 

    샘플을 올려놓으면 Piezo 스테이지가 움직이면서 스캔하는 방식으로

    빠르면서도 안정적인 시스템을 가지고 있으며,  SmartSPM은 5,10,15, 50, 70Hz 이상의 고속 측정속도에도

    실물의  이미지 왜곡이 없이  매우 해상도 높게 측정됩니다.

    타경쟁사의 경우 1~2Hz의 측정속도(1~2Line scan/초)를 가지고 있어 측정시 매우 답답하고 느립니다.

    매우빠른 측정속도 시연을 보시기 바랍니다.(http://www.aist-nt.com/products/smartspm/fast-scanning/)

 

 

 

 

 

    시각적인 간섭이 생기지 않아, 빛의 간섭으로 눈이 깜박거리고 짜증나게 하는 위치 찾기 작업을 방지 할 수 있다.

 

 

 

 

     AFM을 제조공장으로 다시 보낼 필요 없이, AIST사의 엔지니어가 사용자측 연구소를 방문하여 Upgrade 작업합니다.                 HORIBA, TOKYO INSTRUMENT 업체 등등의 기존의 RAMAN 사용자의 분석기를 AFM과 UPGRADE 여부 협의 가능

 

-Topography(3차원 표면 형상)

- Contac AFM in air / (liquid optional)

- Semicontact AFM in air / (liquid optional)

- True Non-contact AFM

- Phase Imaging(표면의 나노물성차이 Image Mapping)

- Lateral Force Microscopy(LFM)

- Force Modulation

- Conductive AFM (optional)-세계최고의 측정정밀도, Current Range: 100fA/10microA

- Magnetic Force Microscopy (MFM)

- Kelvin Probe (Surfacee Potential Microscopy)

- Capacitance and Electric Force Microscopy (EFM)

- Force curve measurement

- Nanolithography

- Nanomanipulation

- STM (optional)

- Photocurrent Mapping (optional)

- Volt-ampere characteristic measurements (optional)

- NSOM(Optional)